何为场曲(Field curvature)在一个平坦的影像平面上，影像的清晰度从中间向外发生变化，聚焦形成弧形，就叫场曲。这种像差是由系统中的镜头元件的焦距总和乘以折射率（不等于零）得出的。如果总和是正数（这是成像镜头典型特征），图像平面将有一个凹曲率；这就是为何影院荧幕往往略微弯曲的原因所在。由于机器视觉镜头很少会选择弯曲图像平面，因此设计人员必须插入凹面更正元件以降低焦距的总和上海精密光学元件批量定制。这使镜头更长，而且通常迫使凹面透镜需要靠近图像平面，从而减少镜头的后焦距。所以镜片的制造难度和成本也会随之增加，大家看到的一些长的远心镜头就是为了克服场曲。苏州希贤光电有限公司是一家专业提供光学元件的公司，有想法可以来我司咨询！上海精密光学元件批量定制

　　光学元件的保养及维护预防措施1、不要用裸指安装镜片，应戴上指套或橡胶手套；2、不要用吸力器械，以免划伤表面；3、拿取镜片时不可触摸膜层和镜片，应拿着镜片边缘的毛面；4、操作者应避免对着镜片说话，并尽可能的让污染物远离工作环境；5酸醋只溶解污物，不会对镜片造成伤害。苏州希贤光电有限公司地处在苏州市吴中区姜庄工业园，从创业至今已有近30年的历史，是专页生产与各种光学仪器配套的光学零件及光学磨料的企业，已通过ISO9001－2000质量体系认证。公司所生产的棱镜、透镜、反光镜、分划板、度盘、滤光片、窗口等主要适用于测量仪器、照相机、显微镜、医疗仪器、军shi等方面的各种光电产品。上海反光镜光学元件定制光学元件，就选苏州希贤光电配件有限公司，新用户的信赖之选，有需要可以联系我们哦！

　　苏州希贤光电有限公司地处在苏州市吴中区姜庄工业园，从创业至今已有近30年的历史，是专页生产与各种光学仪器配套的光学零件及光学磨料的企业，已通过ISO9001－2000质量体系认证。公司所生产的棱镜、透镜、反光镜、分划板、度盘、滤光片、窗口等主要适用于测量仪器、照相机、显微镜、医疗仪器、军shi等方面的各种光电产品。我公司拥有从开料--粗磨--抛光到成品一整套的加工设备，有棱镜铣磨机、平面铣磨机、透镜铣磨机、自动磨边机、半自动磨边机、镀膜机（其中ZZ700-2G镀膜机1台、ZZS800镀膜机1台）、二面抛光机；拥有各道工序检验的测量仪器，有测角仪、平面干涉仪、球面干涉仪、岛津分光光度计、中心仪等；公司还拥有一定加工能力的膜夹具机加工车间；拥有各种技术人员20余名。形成了光学透镜、棱镜、屋脊棱镜、窗口等一系列光学元件产品，已具有年产900万件的加工能力。

　　畸变作为光学系统中经常提到的一个参数，是限制光学量测准确性的重要因素之一。它是光学系统对物体所成的像相对于物体本身而言的失真程度，只引起像的变形，对像的清晰度并无影响。对于理想光学系统，在一对共轭的物像平面上，放大率是常数。但是对于实际的光学系统，*当视场较小时具有这一性质，而当视场较大或很大时，像的放大率就要随视场而异，这样就会使像相对于物体失去相似性。这种使像变形的成像缺陷称为畸变。畸变定义为实际像高与理想像高差，而在实际应用中经常将其与理想像高之比的百分数来表示畸变，称为相对畸变，即：有畸变的光学系统，若对等间距的同心圆物面成像，其像将是非等间距的同心圆。当系统具有正畸变时，实际像高随视场的增大比理想像高增大得快，即放大倍率随视场的增大而增大，则同心圆的间距自内向外逐渐增大；反之，当为负畸变时，圆的间距自内向外逐渐减小。对于普通的光学镜头，只要感觉不出它所成像的变形，这种成像缺陷就可忽略；但是对于某些要利用像来测定物体大小尺寸的应用，畸变的影响就非常重要了，它直接影响测量精度。苏州希贤光电有限公司为您提供专业的服务，欢迎来电咨询。

　　光学镜头相关知识，焦点与焦距： 焦点是指一簇平行于光轴的平行光经过透镜以后，汇聚成的一点。而焦距则是镜头的主平面到焦点之间的距离，由于镜头一般有数片凸透镜和凹透镜组成，所以无法直接判别主平面的位置但通过严格的计算可以得出。要注意后焦面与焦平面的区别，后焦面是指镜头的*后一片透镜到成像面的距离。光圈系数： 光圈是用来控制镜头进光量的大小，在光学上称作孔径光阑。 对于不同的镜头而言，光阑的位置不同，焦距不同，入射瞳直径也不相同，用孔径来描述镜头的通光能力，无法实现不同镜头的比较。所以一般采用相对孔径的方法来表示，即相对孔径 = [ 镜头焦距 ] / [ 入射瞳直径 ] = f/d 在成像系统中，对光圈的调节是很重要的，它可以控制进光量，调节曝光；同时，减小光圈能够提高系统的景深，并提高成像的质量光学元件，就选苏州希贤光电配件有限公司，用户的信赖之选，有需要可以联系我司哦！分划板光学元件价格

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　　光学元件的面形一般是指元件表面的面形精度，其也可以用局部光圈、PV、透过波前等等来表示。主要是说明一个表面与理想参考面的偏差，目前大家使用的*多的是以反射波前来检测的局部光圈（PV）来表示。以球面为例：其PV是微观上检测表面的波峰与波谷的差值，单位一般为波长，检测设备比较认可的是美国的ZYGO干涉仪，可以直接量化的读出PV的数值。光学工程师会在图纸上标识出改参数的值，一般用∆N表示局部光圈，要求是局部光圈要小于给定的值。常规的一般是λ/4用的比较多，该值越小其精度要求越高。该参数是光学元件非常关键的一个指标，其超差可能会引起光学系统的成像质量：分辨率、对比度、景深、像差等。面形超差极有可能导致不能得到理想的图像，甚至导致系统开发失败。简单通俗的总结：面形就是描述元件表面的高低偏差值的大小，该精度的大小对光学系统非常关键，是需要重点注意的参数。上海精密光学元件批量定制